Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos
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Principios de microscopía electrónica de barrido y microanálisis por rayos X característicos

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El microscopio electrónico de barrido (SEM) por su capacidad para proporcionar información morfológica, topográfica, química, cristalográfica, eléctrica y magnética de muestras másicas, ha contribuido considerablemente al dominio de la Física del estado sólido, de la ciencia de materiales, de la electrónica, de los polímeros, de los textiles, de la Biología, Medicina y cirugía dental, etc.

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Año de publicación: 2023

ISBN: 9786073080866

Edición: 1

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